利用离体技术鉴定小麦根腐病抗性研究

宋庆杰

中国农学通报. 2005, 21(8): 352-352

中国农学通报 ›› 2005, Vol. 21 ›› Issue (8) : 352-352. DOI: 10.11924/j.issn.1000-6850.0508352
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利用离体技术鉴定小麦根腐病抗性研究

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Study on resistance evaluation of spot blotch caused by H. sativum with detached leaves in wheat

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